Augen, denen Sie vertrauen können.
Leistung, die Sie messen können.
Eine KI-basierte 3D-Plattform, entwickelt für Präzision, Skalierbarkeit und Geschwindigkeit, fähig zu SPI und AOI.
Über alle SMT- und THT-Produktionsphasen hinweg bietet Delvitech eine hochmoderne Plattform für AOI und SPI, die KI-native Intelligenz mit weltführender Hardwaretechnik vereint.
Das Ergebnis? Schnellere, stabilere Prozesse, drastisch reduzierte Fehlalarme, minimaler Materialabfall mit entsprechend geringeren CO₂-Emissionen – zur Verbesserung Ihrer Produktionsqualität und Nachhaltigkeit.
Eine Plattform.
Totale Kontrolle über alle Inspektionsphasen montierter Leiterplatten.
Anpassungsfähig über alle Produktionsphasen hinweg – von der Lötpaste bis zur automatischen optischen Inspektion – bietet Delvitech Ingenieuren ein einziges, intelligentes Inspektionsprogramm: flexibel, konsistent und bereit für jede Produktionsphase.
Was Ihre
Leistung antreibt.
NEITH Software
Webbasierte, KI-gestützte Plattform zur Steigerung des Produktionsdurchsatzes, Vermeidung von Fehlern und Erhöhung des First-Pass-Yield (Erstausbeute).
Training Manager
Integriertes maschinelles Training, das ohne Vergessen lernt – mit kontinuierlicher Verbesserung ohne Produktionsunterbrechung.
Self-programming
In Kürze verfügbar: Reduzieren Sie die Einrichtungszeit durch automatische Bauteilerkennung, Gehäusezuordnung und Parameteroptimierung.
So fügt sich
alles zusammen.
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Horus
3D AOI + SPI zur Leiterplatteninspektion 
Gesteuert von KI. Geleitet durch Vision.
Horus ist die erste KI-native Plattform, die sowohl AOI als auch SPI in SMT-Produktionen mit echter 3D-Präzision ermöglicht. Sie inspiziert schneller, sieht tiefer und passt sich kontinuierlich an – reduziert Fehlalarme um den Faktor zehn und ermöglicht maßgeschneiderte Inspektionen mit minimalem manuellem Aufwand.
Patentierte optische Köpfe + KI-Gehirn 
Bis zu sechs Kameras. Ein leistungsstarkes KI-Gehirn.
Delvitechs patentierte optische Köpfe erfassen ultrapräzise 3D-Daten und hochauflösende Bilder. Angetrieben von proprietären neuronalen Netzen und patentierten optischen Köpfen passt sich das System jeder Oberfläche, Höhe oder jedem Material an – und liefert klare Ergebnisse über ein breites Spektrum an Komponenten hinweg: von reflektierenden Metallen bis zu Schattenbereichen, hohen Steckverbindern und Fine-Pitch-Elementen. Und es lernt weiter – Zyklus für Zyklus.
Eine skalierbare, aufrüstbare Plattform 
XP für Geschwindigkeit, HD für Details. ITU für beide Seiten, DUO für beide Bahnen.
Für Hochdurchsatz-Umgebungen ermöglicht das XP-Element schnelle Inspektionen mit 0,4 Sekunden pro Sichtfeld (FoV). Das HD-Element liefert eine ultrahochauflösende Bildgebung – ideal für Mikroelektronik und detailreiche Baugruppen. DUO bringt ein Zwei-Bahnen-Fördersystem zur Optimierung der Plattenhandhabung und zur Steigerung der Linieneffizienz. Das ITU-Element unterstützt die doppelseitige Inspektion durch Kippen der Leiterplatten entlang der X-Achse. Mit Horus skaliert Ihr AOI-System im Einklang mit Ihrem sich weiterentwickelnden Produktionsfluss.
Sofortige Einblicke, keine Engpässe 
40 Gbit in 1 Sekunde. Denkt schneller als ein Wimpernschlag.
Horus verarbeitet über 40 Gigabit an Inspektionsdaten in nur einer Sekunde. Von der Bauteilposition und Polarität bis zu Pin-Konturen und Lötstellenanalyse – jedes Detail wird mit außergewöhnlicher Klarheit erfasst. Integrierte OCR und vollständige 360°-Inspektion sichern die Einhaltung der IPC-Standards, während echte 3D-Optik, linear angetriebene Köpfe und ultraschnelle Leiterplattenhandhabung die Leistung weit über die Grenzen traditioneller Systeme hinaus steigern.
Bereit für jede Platine 
Bis zu 60 mm. Freiraum für jedes Projekt.
Mit großzügigem Abstand oben und unten sowie Unterstützung für Platinen bis zu 560 × 550 mm bewältigt Horus selbst komplexeste Baugruppen – und bietet unübertroffene Flexibilität für jede Produktionslinie.
Aton
Die 3D-AOI-Lösung für alle Platinentypen. 
Herausragende Hardware
Aton ist eine fortschrittliche Full-3D-Inspektionslösung auf Basis Künstlicher Intelligenz, entwickelt zur Neudefinition der Standards der AOI-Systeme (Automatisierte optische Inspektion). Speziell für Post-Reflow- und Post-Wave-Inspektionen konzipiert, meistert Aton auch höchstkomplexes PCBA (Leiterplattenbestückung) mit schweren, großen oder hochprofiligen Bauteilen.
Z-Achsenbewegung 
Entwickelt für Höhenvariationen.
Dank adaptiver Z-Achsenbewegung und fortschrittlichem optischen Kopf ist Aton ideal für Spezialanwendungen, bei denen Bauteile unterschiedlicher Höhe geprüft werden müssen. Das System bietet dynamische Fokusanpassung über einen Bereich von 80 mm – für präzise Analysen der Platinen bei Bauteilhöhen von bis zu 140 mm.
Freiraum für jedes Projekt 
Freiraum oben bis zu 120 mm
Freiraum unten bis zu 140 mm
Aton ist ausgelegt für selbst höchste Bauteile: mit bis zu 120 mm Freiraum oben, 140 mm unten und Platinen bis 10 kg. Ob hohe Steckverbinder, reflektierende Materialien oder unregelmäßige Geometrien – Aton bietet Platz und Präzision für eine fehlerfreie Inspektion.
Echte 3D-Datenerfassung 
Der patentierte optische Kopf von Delvitech mit sechs Kameras ist eine leistungsstarke Technologie, die präzise 3D-Daten mit kristallklaren Bildern erfasst – für eine Vielzahl von Gehäusen und Bauteilen. Von hohen Steckverbindern mit reflektierenden Metallflächen bis hin zu Fein-Pitch-Komponenten bietet Aton zuverlässige, konstante Leistung in sämtlichen SMT- und THT-Szenarien.
Roberto Gatti
Vorsitzender
CEO Delvitech Group.
Gabriele Besacchi
Verwaltungsrats-mitglied
Geschäftsführer und Private-Investments-Spezialist bei Alvarium.
Investment Managers.
Jürgen Schmidhuber
Verwaltungsrats-mitglied
Direktor, AI Initiative, KAUST.
Wissenschaftlicher Direktor, Swiss AI Lab IDSIA
Paolo Orsatti
Verwaltungsrats-mitglied
Geschäftsführender Gesellschafter bei TiVentures und CREADD
Jan Baggerman
Verwaltungsrats-mitglied
Unternehmer
Delvitech weltweit
-
Schweiz
Delvitech SA
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Indien
DelvitechAI Vision Systems India Pvt. Ltd.
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USA
Delvitech Inc
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Deutschland
Delvitech GmbH
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